Um fabricante usa pequenas tiragens para criar pequenos lotes de peças metálicas. O gerente de qualidade mede peças de três execuções para avaliar a estabilidade do processo de estampagem.
O gerente cria uma carta Z-MR para monitorar o processo de gravação.
- Abra os dados amostrais, PeçasGravadas.MTW.
- Selecione .
- Em Variáveis, insira Dados de gravação.
- Em Indicador de peça, insira Sequência.
- Clique em Opções de Z-AM.
- Na guia Estimativa, sob Como definir grupos de observações, selecione Relativa ao tamanho (combinar todas as observações, usar ln).O engenheiro de qualidade sabe, por experiência própria, que a variância aumenta à medida que o tamanho da medição aumenta. Portanto, use o método Relativa ao tamanho (combinar todas as observações, usar ln) para estimar o desvio padrão do processo.
- Na guia Testes, selecione 1 ponto > desvios padrão K da linha central (Teste 1) e K pontos consecutivos do mesmo lado da linha central (Teste 2).Se você não tiver certeza de qual testa aplicar na sua situação específica, use os testes 1, 2 e 7 quando você estabelecer primeiro os limites de controle com base em seus dados. Depois que os limites de controle estiverem estabelecidos, você pode usar os valores conhecidos desses limites e o Teste 7 não será mais necessário.
- Clique em OK em cada caixa de diálogo.
Interpretar os resultados
O ponto 13 está acima do limite de controle superior na carta de amplitude móvel. Além disso, o Ensaio A parece ter menos variação nas amplitudes móveis do que qualquer o Ensaio B ou Ensaio C. Você também pode ver esta variação entre os ensaios na carta Z. Com base nestes resultados, as causas especiais podem influenciar atualmente o processo.
Carta Z-AM de Dados de gravação
Carta Z-AM de Dados de gravação
Resultados do Teste para a Carta AM de Dados de gravação
TESTE 1. Um ponto mais que 3,00 desvios padrão da linha central.
O teste falhou nos pontos: 13
