Dados de vazamento de corrente elétrica

Um engenheiro de confiabilidade quer analisar o vazamento de corrente elétrica entre os transistores em um dispositivo eletrônico. Quando o vazamento atual atinge um determinado valor de limite, o dispositivo eletrônico falha. Para acelerar as falhas para testagem, os dispositivos foram testados em temperaturas muito mais altas do que o normal. Os dispositivos foram inspecionados quanto a falhas a cada dois dias.

Use esses dados para demonstrar Teste de vida acelerado. A relação entre a temperatura de Arrhenius e as falhas é linear.

Coluna da worksheet	Descrição
TempoDeInício	O momento de início do intervalo de teste, em dias.
TempoDeFim	O momento de término do intervalo de teste, em dias. Os dispositivos foram inspecionados a cada 2 dias.
Cont	O número de dispositivos que falharam no intervalo de teste entre TempoDeInício e TempoDeFim.
Temp	A temperatura à qual o dispositivo foi exposto.
NovaTemp	As temperaturas para fins de previsão. 55^oC é a temperatura do experimento e 85^oC é a temperatura do pior caso.

A linha 1 indica que nenhum dispositivo que foi exposto a 125^oC falhou durante o intervalo desde o início do teste até a primeira inspeção no dia 2. A linha 8 indica 46 dispositivos que foram expostos a 125^oC durante o intervalo do dia 14 até o fim do teste ainda estavam funcionando no dia 16.

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