Dados de vazamento de corrente elétrica

Um engenheiro de confiabilidade quer analisar o vazamento de corrente elétrica entre os transistores em um dispositivo eletrônico. Use esses dados para demonstrar Teste de vida acelerado.

Um engenheiro de confiabilidade quer analisar o vazamento de corrente elétrica entre os transistores em um dispositivo eletrônico. Quando o vazamento atual atinge um determinado valor de limite, o dispositivo eletrônico falha. Para acelerar as falhas para testagem, os dispositivos foram testados em temperaturas muito mais altas do que o normal. Os dispositivos foram inspecionados quanto a falhas a cada dois dias.

Use esses dados para demonstrar Teste de vida acelerado. A relação entre a temperatura de Arrhenius e as falhas é linear.

Coluna de folha de exercícios	Descrição
TempoDeInício	O horário de início do intervalo de prova, em dias.
TempoDeFim	O horário final do intervalo de teste, em dias. Os dispositivos foram inspecionados a cada 2 dias.
Cont	O número de dispositivos que falharam dentro do intervalo de teste entre TempoDeInício e TempoDeFim.
Temp	A temperatura à qual o dispositivo foi exposto.
NovaTemp	As temperaturas para fins de previsão. 55°C é a temperatura de projeto e 85°C é a pior cena.

A linha 1 indica que nenhum dispositivo exposto a 125°C falhou durante o intervalo desde o início do teste até a primeira inspeção no segundo dia. A linha 8 indica que 46 dispositivos expostos a 125°C durante o intervalo do dia 14 até o final do teste no dia 16 ainda estavam funcionando.

Download VazamentoDeCorrente.MWX