표준화 잔차에 대한 확률도는 하나의 적합선만 계산되도록 데이터를 조합합니다. 하나의 적합선만을 사용하면 표시된 점이 적합선을 가깝게 따르는지 여부를 더 쉽게 확인할 수 있습니다. 반면에, 적합 모형을 기반으로 하는 확률도에는 각 가속 수준에 대해 하나씩 여러 개의 적합선이 있습니다. 그 결과, 각 선은 제한된 수의 표시된 점을 가질 수 있으며, 그림은 한 두 개의 일치하지 않는 관측치로 인해 가정의 위반을 나타낼 수도 있습니다.
전자 장치 데이터의 경우 표시된 점들이 적합선을 가깝게 따르므로 모형이 가속 수준에 적합하다는 증거를 더 많이 얻을 수 있습니다.