D-최적 반응 표면 설계 선택의 예에서 한 재료 과학자가 30개 점의 후보 집합에서 설계점 20개의 부분 집합을 선택합니다.
과학자는 선택된 설계점 20개에 대한 데이터를 수집한 후 5개의 설계점을 추가로 실행할 수 있다는 것을 확인합니다. 이 경우 과학자는 원래 설계에 대한 데이터를 이미 수집한 상태이므로, 이러한 점들이 증대/최적화 과정 중에 제외되지 않도록 증대된 설계에서 보호해야 합니다. 이 점들을 보호하려면 첫 번째 최적 설계에서 이미 선택한 설계점에 대해 음(-)의 지시자를 사용하십시오.
과학자는 5개의 설계점을 추가로 실행하기로 결정합니다. 이 경우, 과학자는 원래 설계에 대한 데이터를 이미 수집한 상태이므로, 이러한 점들이 증대/최적화 과정 중에 제외되지 않아야 합니다. 원래 설계점 20개를 보호하기 위해 과학자는 첫 번째 최적 설계에서 이미 선택한 설계점에 대해 음(-)의 지시자를 사용합니다. 지시자 열을 생성하는 방법에 대한 자세한 내용은 #2단계를 참조하십시오.
C1 | C2 | C3 | C4 | C5 | C6 | C7 | C8 | C9 |
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표준 순서 | 런 순서 | 점 유형 | 블럭 | A | B | C | D | 최적점 |
12 | 1 | 1 | 1 | 8.25 | 55 | 0.75 | 6.5 | 1 |
11 | 2 | 1 | 1 | 6.75 | 55 | 0.75 | 6.5 | 0 |
C9 | C10 |
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최적점 | -1로 런 계속 |
1 | −1 |
0 | 0 |
이 예에서는 첫 번째 설계를 순차적으로 생성하고, 첫 번째 설계를 향상시키기 위해 (한 번에 설계점 하나를 사용하는) 교환 방법이 사용되었습니다.
선택되는 설계점은 후보 집합에서 점의 행 순서에 따라 달라집니다. 따라서 후보 점의 집합이 같은 경우에도 행 순서가 다르면 최적 설계가 달라질 수 있습니다. 이는 지정된 후보 점의 집합에 대해 여러 개의 D-최적 설계가 존재하기 때문에 발생할 수 있습니다.
조건 수: | 8.53018 |
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D - 최적성(XTX의 행렬식): | 3.73547E+20 |
A - 최적성(inv(XTX)의 대각합): | 1.99479 |
G-최적성(평균 레버리지/최대 레버리지): | 0.64 |
V - 최적성(평균 레버리지): | 0.64 |
최대 레버리지: | 1 |