유형 1 Gage 연구를 사용한 측정 공정 능력 평가

유형 1 Gage 연구에서는 Gage로 인한 변동만 평가합니다. 구체적으로, 이 연구에서는 측정 시스템 하나가 기준 부품 하나를 측정한 값에 치우침과 반복성이 미치는 영향을 평가합니다.

측정 시스템 분석을 시작할 때 유형 1 Gage 연구를 사용하여 다른 변동 원인이 아닌 Gage에만 초점을 맞춥니다. 실제로 많은 조직에서는 유형 1 Gage 연구를 전체 측정 시스템 분석의 첫 단계로 사용할 것을 요구합니다.

유형 1 Gage 연구를 사용하여 Gage를 인증한 후 Minitab의 다른 Gage 연구 도구를 사용하여 MSA를 넓히고 다른 측정 변동 원인을 고려하십시오.

반복성은 동일한 부품을 일관되게 측정하는 Gage의 능력입니다. 적합한 Gage에도 어느 정도의 측정 변동은 존재하지만, 부품의 공차에 비해 변동이 너무 크면 Gage의 변동이 너무 크기 때문에 해당 용도에 사용할 수 없습니다. 예를 들어, 실린더 직경의 공차가 5mm인데 기준 실린더의 반복 측정 범위도 5mm인 경우에는 실린더가 공차 범위 안에 있는지 확인하는 데 사용하기에는 Gage의 신뢰도가 너무 낮습니다. Gage 측정값 변동은 공차에 비해 작아야 합니다.

Gage의 반복성을 평가하기 위해 Minitab에서는 Cg 측도를 계산하여 연구 변동(Gage 측정값의 범위)을 공차의 백분율과 비교합니다. Cg 값이 1.33보다 크면 Gage 측정값의 범위가 공차 범위에 비해 충분히 좁음을 나타냅니다.

예를 들어, 기본값 K와 L에 대해 Cg 측도가 2이면 공차 범위의 20%에 측정값의 전체 범위가 2번 포함될 것임을 나타냅니다. 이 Cg 값은 이 공차 범위 내에서 Gage가 얼마나 효과적인지 나타냅니다.

용어	설명
K	공차의 백분율(기본값 20)
s	측정값의 표준 편차
L	전체 공정 범위를 나타내는 표준 편차 수(기본값 6)

Minitab에서는 반복성과 함께 Gage의 평균 측정값과 공식 기준 값(Gage의 "실제" 목표 값)의 차이인 Gage의 치우침도 평가합니다. Minitab에서는 치우침이 없다는 귀무 가설의 t-검정을 사용하여 치우침을 분석합니다. 이 검정은 실제로 평균 측정값이 기준 값과 크게 다른지 확인하기 위한 1-표본 t-검정과 같습니다. 통계적으로 유의한 치우침이 존재할 경우 Gage가 일관되게 올바른 값보다 더 높거나 낮게 측정하고 있다는 결론을 내릴 수 있습니다.

Minitab에서는 반복성과 치우침을 함께 평가하는 공정능력 측도 Cgk도 계산합니다. Cgk는 연구 변동을 공차와 비교하지만 측정값이 "목표"와 일치하는 지도 고려합니다. Gage의 평균 측정값과 기준 값의 차이가 커질수록 Cgk가 감소합니다. Cgk 값 1.33은 적합한 Gage, 즉 정밀(반복성이 우수)하면서 정확한(치우침이 낮은) Gage를 나타내는 데 널리 사용되는 벤치마크입니다.

용어	설명
K	공차의 백분율(기본값 20)
Xbarg	모든 측정값의 평균
Xm	기준 값
s	측정값의 표준 편차
L	공정 범위의 절반을 나타내는 데 사용할 표준 편차 수(일반적으로 3)