1단계: 측정값의 변동을 공차 범위와 비교하여 평가
공정에서 치우침 또는 다른 측정 시스템 변동의 증거를 찾으려면 런 차트를 사용하십시오.
기준선에 가까운 측정값, 전체 공차 범위에 걸쳐 변화하는 측정값 또는 ±10% 공차 범위를 초과하는 측정값이 있을 수도 있습니다. 한계를 초과하는 점이 있는 경우 시스템의 공정 능력에 문제가 있을 수 있습니다.
주요 결과: 런 차트
이 결과에서 대부분의 두께 측정값이 ±10% 공차 범위에 포함됩니다. 그러나 일부 측정값이 기대보다 작아(-10% 공차 범위보다 작아) 측정 시스템에 문제가 있다는 것을 나타낼 수도 있습니다.
2단계: 측정 시스템의 치우침 평가
Gage 치우침은 측정값의 평균과 기준 값의 부품 간의 차이를 나타냅니다. 측정 시스템에 유의한 치우침이 있는지 여부를 확인하려면 p-값을 사용하십시오. 귀무 가설은 치우침 = 0이고 대립 가설은 치우침 ≠ 0입니다.
측정 시스템에 유의한 치우침이 있는지 여부를 확인하려면 p-값(α 또는 알파로 표시함)을 유의 수준과 비교하십시오. 일반적으로, 0.05의 유의 수준이 좋습니다. 0.05의 유의 수준은 시스템에 치우침이 없는데 치우침이 있다는 결론을 내릴 위험이 5%라는 것을 나타냅니다.
- p-값 ≤ α: 측정 시스템에 치우침이 있습니다(H0 기각).
- p-값이 유의 수준보다 작거나 같으면 귀무 가설을 기각합니다. 측정 시스템에 통계적으로 유의한 치우침이 있다는 결론을 내릴 수 있습니다. 측정 시스템을 조사하여 치우침의 원인을 확인하고 측정 시스템을 개선하십시오.
- p-값 > α: 측정 시스템에 치우침이 있다는 결론을 내릴 수 없습니다(H0을 기각할 수 없음).
- p-값이 유의 수준보다 크면 귀무 가설을 기각할 수 없습니다. 측정 시스템의 치우침이 통계적으로 유의하다는 결론을 내릴 충분한 증거가 없습니다. 그러나 측정 시스템에 치우침이 없다는 결론을 내릴 수도 없습니다.
주요 결과: t, p-값
이 결과에서, p-값(0.021)이 유의 수준 0.05보다 작기 때문에 치우침이 존재한다는 충분한 증거가 있습니다. 치우침의 양은 작아 보이지만(-0.000015) 통계적으로 유의합니다.
3단계: 측정 시스템의 공정 능력 평가
측정 시스템에서 부품을 일관되고 정확하게 측정할 수 있는지 여부를 확인하려면 공정 능력 지수를 사용합니다.
Cg는 공차를 측정값 변동과 비교합니다. CgK는 공차를 측정값 변동 및 치우침과 비교합니다.
주요 결과: Cg, CgK
이 결과에서 Cg는 0.53이고 CgK는 0.42입니다. 두 공정 능력 지수 모두 일반적으로 사용되는 벤치마크 값 1.33보다 작습니다. 이 결과는 측정 시스템이 부품을 일관되고 정확하게 측정할 수 없다는 것을 나타냅니다. 측정 시스템을 개선하여 더 신뢰할 수 있는 측정 시스템을 만들어야 합니다.
