군간/군내 Capability Sixpack에 대한 공정 능력 통계량

해석

공정 산포를 기반으로 공정의 전체 공정 능력을 평가하려면 Pp를 사용합니다. 전체 공정 능력은 시간이 지남에 따라 고객이 경험하는 공정의 실제 성능을 나타냅니다.

Pp는 공정 평균의 위치를 고려하지 않기 때문에 공정이 중심화되었을 경우 달성할 수 있는 전체 공정 능력을 나타냅니다. 일반적으로 Pp 값이 높으면 공정의 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. Pp 값이 낮으면 공정 개선이 필요할 수도 있음을 나타냅니다.

주의

Pp 지수는 공정 위치를 고려하지 않기 때문에 공정이 규격 한계에 의해 정의된 목표 영역에 얼마나 가까운지 나타내지 않습니다. 예를 들어, 다음 그래프는 Pp 값이 동일한 두 공정을 보여주지만, 한 공정은 규격 한계 내에 포함되며 다른 공정은 그렇지 않습니다.

Pp = 2.27

Pp = 2.27

완전하고 정확한 분석을 위해 그래프를 다른 공정 능력 지수(예: Ppk)와 함께 사용하여 데이터로부터 유의한 결론을 도출하십시오.

해석

공정 위치 및 공정 산포를 기반으로 공정의 전체 공정 능력을 평가하려면 Ppk를 사용합니다. 전체 공정 능력은 시간이 지남에 따라 고객이 경험하는 공정의 실제 성능을 나타냅니다.

일반적으로 Ppk 값이 높으면 공정의 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. Ppk 값이 낮으면 공정 개선이 필요할 수도 있음을 나타냅니다.

주의

Ppk 지수는 공정 곡선의 한 쪽만 나타내며, 공정 곡선의 반대쪽에서 공정이 얼마나 잘 수행되는 지는 나타내지 않습니다.

예를 들어, 다음 그래프는 동일한 Ppk 값을 갖는 두 공정을 표시합니다. 그러나 한 공정은 두 규격 한계를 모두 위반하며 다른 공정은 규격 상한만 위반합니다.

Ppk = min {PPL = 4.01, PPU = 0.64} = 0.64

Ppk = PPL = PPU = 0.64

공정에 규격 한계의 양쪽에 모두 해당되는 불량 부품이 있을 경우 다른 지수(Z.bench 등)를 사용하여 공정 능력을 더 완전하게 평가하는 방법을 고려하십시오.

해석

규격 산포 및 목표값에 상대적인 공정의 전체 공정 능력을 평가하려면 Cpm을 사용합니다. 전체 공정 능력은 시간이 지남에 따라 고객이 경험하는 공정의 실제 성능을 나타냅니다.

일반적으로 Cpm 값이 높으면 공정의 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. 값이 낮으면 공정 개선이 필요할 수도 있음을 나타냅니다.

Cpm을 다른 값과 비교하여 공정의 공정 능력에 대한 추가 정보를 얻을 수 있습니다.

• 공정의 전체 공정 능력을 평가하려면 Cpm을 벤치마크 값과 비교합니다. 많은 업종에서 1.33을 벤치마크 값으로 사용합니다. Cpm이 벤치마크보다 낮으면 변동을 줄이거나 위치를 이동하는 등 공정을 개선하는 방법을 고려해 보십시오.

• Ppk와 Cpm을 비교합니다. 공정이 목표값에 중심화되면 Ppk와 Cpm 값이 근사적으로 같습니다.

해석

공정의 전체 변동을 기반으로 백만 개의 부품 중에서 규격 한계를 벗어날 것이라고 기대할 수 있는 불량품의 수를 추정하려면 전체 기대 성능에 대한 PPM 총계를 사용합니다. 전체 성능 값은 시간이 지남에 따라 고객이 경험하는 실제 공정 성능을 나타냅니다.

PPM 총계가 낮을수록 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. 이상적으로는 측정값이 규격 한계를 벗어나는 부품이 거의 없거나 전혀 없습니다.

해석

공정의 전체 시그마 공정 능력을 평가하려면 Z.Bench(전체)를 사용합니다.

일반적으로 Z.bench 값이 높으면 공정의 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. Z.bench 값이 낮으면 공정 개선이 필요할 수도 있음을 나타냅니다. 가능하면 Z.bench를 공정 지식 또는 업계 표준을 기반으로 한 벤치마크 값과 비교하십시오. Z.Bench가 벤치마크보다 낮으면 공정을 개선하는 방법을 고려해 보십시오.

Z.Bench(군내)와 Z.Bench(전체)를 비교합니다. 공정이 통계적 관리 상태에 있는 경우 Z.Bench(군내)와 Z.Bench(전체)가 근사적으로 같습니다. 두 값의 차이는 공정을 관리 상태로 만든 경우 기대할 수 있는 공정 능력의 개선을 나타냅니다. Zbench(전체)는 Z.Bench 장기(LT)라고도 합니다.

해석

공정의 군간/군내 공정 능력을 평가하려면 Cp를 사용합니다. 군간/군내 공정 능력은 부분군 군간 및 군내 변동 외에 전체 공정 변동의 원인을 제거할 수 있는 경우 공정에서 달성할 수 있는 공정 능력을 나타냅니다.

Cp는 공정 위치를 고려하지 않기 때문에 공정이 중심화되었을 경우 달성할 수 있는 공정 능력을 나타냅니다. 일반적으로 Cp 값이 높으면 공정의 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. 값이 낮으면 공정을 개선해야 할 수도 있다는 것을 나타냅니다.

주의

Cp 지수는 공정 위치를 고려하지 않기 때문에 공정이 규격 한계에 의해 정의된 목표 영역에 얼마나 가까운지 나타내지 않습니다. 예를 들어, 다음 그래프는 Cp 값이 동일한 두 공정을 보여주지만, 한 공정은 규격 한계 내에 포함되며 다른 공정은 그렇지 않습니다.

Cp = 3.13

Cp = 3.13

완전하고 정확한 분석을 위해 그래프를 다른 공정 능력 지수(예: Cpk)와 함께 사용하여 데이터로부터 유의한 결론을 도출하십시오.

해석

위치와 산포를 모두 고려하여 군간/군내 공정 능력을 평가하려면 Cpk를 사용합니다. 군간/군내 공정 능력은 부분군 군간 및 군내 변동 외에 전체 공정 변동의 원인을 제거할 수 있는 경우 공정에서 달성할 수 있는 공정 능력을 나타냅니다.

일반적으로 Cpk 값이 높으면 공정의 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. Cpk 값이 낮으면 공정 개선이 필요할 수도 있음을 나타냅니다.

주의

Cpk 지수는 공정 곡선의 한 쪽만 나타내며, 공정 곡선의 반대쪽에서 공정이 얼마나 잘 수행되는 지는 나타내지 않습니다.

예를 들어, 다음 그래프는 동일한 Cpk 값을 갖는 두 공정을 표시합니다. 그러나 한 공정은 두 규격 한계를 모두 위반하며 다른 공정은 규격 상한만 위반합니다.

Cpk = min {CPL = 4.58, CPU = 0.93} = 0.93

Cpk = CPL = CPU = 0.93

공정에 규격 한계의 양쪽에 모두 해당되는 불량 부품이 있을 경우 다른 지수(Z.bench 등)를 사용하여 공정 능력을 더 완전하게 평가하는 방법을 고려하십시오.

해석

부분군 군간/군내 변동을 기반으로 백만 개의 부품 중에서 규격 한계를 벗어날 것이라고 기대할 수 있는 불량품의 수를 추정하려면 군간/군내 기대 성능에 대한 PPM 총계를 사용합니다. 군간/군내 성능 값은 부분군 군간 및 군내 변동 외에 전체 공정 변동의 추가 원인을 제거할 수 있는 경우 달성할 수 있는 성능을 나타냅니다.

PPM 총계가 낮을수록 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. 이상적으로는 측정값이 규격 한계를 벗어나는 부품이 거의 없거나 전혀 없습니다.

해석

공정의 군간/군내 시그마 공정 능력을 평가하려면 Z.Bench(군간/군내)를 사용합니다.

일반적으로 Z.bench(군간/군내) 값이 높으면 공정의 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. 값이 낮으면 공정 개선이 필요할 수도 있음을 나타냅니다. 가능하면 Z.bench(군간/군내)를 공정 지식 또는 업계 표준을 기반으로 한 벤치마크 값과 비교하십시오. Z.Bench(군간/군내)가 벤치마크보다 작으면 공정을 개선하는 방법을 고려해 보십시오.