다중 변수에 대한 정규 공정 능력 분석에 대한 관측 성능

다중 변수에 대한 정규 공정 능력 분석과 함께 제공되는 모든 관측 성능 측도에 대한 정의 및 해석 방법을 확인해 보십시오.

관측 성능에 대한 PPM < 규격 하한

관측 성능에 대한 PPM < 규격 하한은 백만 개의 부품 중에서 측정값이 규격 하한보다 작은 부품의 실제 수입니다.

표본 데이터에서 백만 개의 부품 중에서 규격 한계보다 작은 실제 불량품의 수를 평가하려면 관측 성능에 대한 PPM < 규격 하한을 사용합니다.

PPM < 규격 하한 값이 낮을수록 공정 능력이 규격 하한에 비해 더 크다는 것을 나타냅니다. 이상적으로는 규격 하한보다 측정값이 작은 부품이 거의 없거나 전혀 없습니다.

관측 성능에 대한 PPM > 규격 상한은 백만 개의 부품 중에서 측정값이 규격 상한보다 큰 부품의 실제 수입니다.

표본 데이터에서 백만 개의 부품 중에서 규격 한계보다 큰 실제 불량품의 수를 평가하려면 관측 성능에 대한 PPM > 규격 상한을 사용합니다.

PPM > 규격 상한 값이 낮을수록 공정 능력이 규격 상한에 비해 더 크다는 것을 나타냅니다. 이상적으로는 규격 상한보다 측정값이 큰 부품이 거의 없거나 전혀 없습니다.

관측 성능에 대한 PPM 총계는 백만 개의 부품 중에서 측정값이 규격 한계를 벗어나는 부품의 실제 수입니다. PPM 총계는 PPM < 규격 하한과 PPM > 규격 상한의 합입니다.

표본 데이터에서 백만 개의 부품 중에서 규격 한계를 벗어나는 실제 불량품의 수를 평가하려면 관측 성능에 대한 PPM 총계를 사용합니다.

PPM 총계가 낮을수록 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. 이상적으로는 측정값이 규격 한계를 벗어나는 부품이 거의 없거나 전혀 없습니다.

PPM을 사용하여 규격에 맞는 부품과 불량 부품의 백분율을 추정할 수도 있습니다.

관측 성능에 대한 % < 규격 하한은 측정값이 규격 하한보다 작은 부품의 실제 백분율입니다.

표본 데이터에서 규격 한계보다 작은 불량품의 백분율을 평가하려면 관측 성능에 대한 % < 규격 하한을 사용합니다.

% < 규격 하한 값이 낮을수록 공정 능력이 규격 하한에 비해 더 크다는 것을 나타냅니다. 이상적으로는 규격 하한보다 측정값이 작은 부품이 거의 없거나 전혀 없습니다.

관측 성능에 대한 % > 규격 상한은 측정값이 규격 상한보다 큰 부품의 실제 백분율입니다.

표본 데이터에서 규격 한계보다 큰 불량품의 백분율을 평가하려면 관측 성능에 대한 % > 규격 상한을 사용합니다.

% > 규격 상한 값이 낮을수록 공정 능력이 규격 상한에 비해 더 크다는 것을 나타냅니다. 이상적으로는 규격 상한보다 측정값이 큰 부품이 거의 없거나 전혀 없습니다.

관측 성능에 대한 % 총계는 백만 개의 부품 중에서 측정값이 규격 한계를 벗어나는 부품의 실제 백분율입니다. % 총계는 % < 규격 하한과 % > 규격 상한의 합입니다.

표본 데이터에서 규격 한계를 벗어나는 불량품의 백분율을 평가하려면 관측 성능에 대한 % 총계를 사용합니다.

% 총계가 낮을수록 공정 능력이 더 크다는 것을 나타냅니다. 이상적으로는 측정값이 규격 한계를 벗어나는 부품이 거의 없거나 전혀 없습니다.