백만 개 중에서 규격 하한보다 작은 측정값을 갖는 부품의 수는 다음과 같이 계산됩니다.

| 용어 | 설명 |
|---|---|
| 규격 하한 | 규격 하한 |
| N | 총 관측치 수 |
백만 개 중에서 규격 상한보다 큰 측정값을 갖는 부품의 수는 다음과 같이 계산됩니다.

| 용어 | 설명 |
|---|---|
| 규격 상한 | 규격 상한 |
| N | 총 관측치 수 |
백만 개의 부품 중에서 규격 한계를 벗어나는 총 부품 수는 다음과 같이 계산됩니다.


| 용어 | 설명 |
|---|---|
| 규격 하한 | 규격 하한 |
| 규격 상한 | 규격 상한 |
| N | 총 관측치 수 |
신뢰 구간의 계산은 결과를 올바른 단위로 변환하는 마지막 단계를 제외하고 PPM 및 백분율에 대해 동일합니다. 다음 공식은 양측 100(1 –
)% 신뢰 구간. 단측 신뢰 구간을 찾으려면
와 함께 (1 –
).


수식의 결과를 PPM으로 변환하려면 1,000,000을 곱합니다.
수식의 결과를 백분율로 변환하려면 100을 곱합니다.
관측치가 규격 한계를 벗어나는 단위가 없으면 신뢰 하한은 0입니다. 관측된 모든 단위가 규격 한계를 벗어나면 신뢰 상한은 1입니다.
| 용어 | 설명 |
|---|---|
![]() | 신뢰 하한 |
![]() | 신뢰 상한 |
| n | 전체 단위 수 |
![]() | 단위가 사양을 벗어난 경험적 확률: 불량 수 / 전체. |
![]() | (1 – )/표준 정규 분포의 2 백분위수 |
![]() | 1 – 신뢰 수준 |
Newcombe, R. G. (1998). Two-sided confidence intervals for the single proportion: comparison of seven methods. Statistics in Medicine, 17(8), 857-872.
Tong, L. I., & Chen, J. P. (1998). Lower confidence limits of process capability indices for nonnormal process distributions. International Journal of Quality & Reliability Management, 15(8/9), 907-919.