다중 변수에 대한 비정규 공정 능력 분석의 전체 공정 능력 측도에 대한 방법 및 공식

이 항목의 내용

Pp

Pp는 사용자가 지정한 모수 값을 사용하여 계산되거나 분석에 사용된 분포에 대한 최대우도 방법을 사용하여 추정됩니다. Minitab은 파일 > 옵션 > 관리도 및 품질 도구 > 공정 능력 분석에서 선택된 설정에 따라 Z-점수 방법(기본값) 또는 ISO 방법을 사용하여 Pp 통계량을 계산합니다. 다음 공식은 6 표준 편차(공정 평균의 양쪽으로 3 표준 편차씩) 너비인 기본 공차 K = 6을 기반으로 합니다.

Z-점수 방법

표기법

용어	설명
Zlsl	Φ^–1(p₁)
Zusl	Φ^–1(p₂)
Φ^–1(p)	p * 표준 정규 분포의 100번째 백분위수
p₁	Prob (X ≤ LSL)
p₂	Prob (X ≤ USL)
X	X는 분석에 사용된 분포를 따릅니다.

ISO 방법

표기법

용어	설명
USL	규격 상한
LSL	규격 하한
X_0.99865	지정된 분포의 99.865번째 백분위수
X_0.00135	지정된 분포의 0.135번째 백분위수

PPL

PPL은 사용자가 지정한 모수 값을 사용하여 계산되거나 분석에 사용된 분포에 대한 최대우도 방법을 사용하여 추정됩니다. Minitab은 파일 > 옵션 > 관리도 및 품질 도구 > 공정 능력 분석에서 선택된 설정에 따라 Z-점수 방법(기본값) 또는 ISO 방법을 사용하여 PPL 통계량을 계산합니다. 다음 공식은 6 표준 편차(공정 평균의 양쪽으로 3 표준 편차씩) 너비인 기본 공차 K = 6을 기반으로 합니다.

Z-점수 방법

표기법

용어	설명
Φ^–1(p)	p * 표준 정규 분포의 100번째 백분위수
p₁	Prob (X ≤ LSL)
X	X는 분석에 사용된 분포를 따릅니다.

ISO 방법

표기법

용어	설명
LSL	규격 하한
X_0.5	지정된 분포의 50번째 백분위수
X_0.00135	지정된 분포의 0.135번째 백분위수

PPU

PPU는 사용자가 지정한 모수 값을 사용하여 계산되거나 분석에 사용된 분포에 대한 최대우도 방법을 사용하여 추정됩니다. Minitab은 파일 > 옵션 > 관리도 및 품질 도구 > 공정 능력 분석에서 선택된 설정에 따라 Z-점수 방법(기본값) 또는 ISO 방법을 사용하여 PPU 통계량을 계산합니다. 다음 공식은 6 표준 편차(공정 평균의 양쪽으로 3 표준 편차씩) 너비인 기본 공차 K = 6을 기반으로 합니다.

Z-점수 방법

표기법

용어	설명
Φ^-1(p)	p * 표준 정규 분포의 100번째 백분위수
p₂	Prob (X ≤ USL)
X	X는 분석에 사용된 분포를 따릅니다.

ISO 방법

표기법

용어	설명
USL	규격 상한
X_0.5	지정된 분포의 50번째 백분위수
X_0.99865	지정된 분포의 99.865번째 백분위수

Ppk