전체 공정 능력에 대한 벤치마크 Z 통계량은 해당 통계량에 대한 표준 정규 (0, 1) 분포를 사용하여 Z 값을 찾음으로써 계산됩니다.
설명:
용어 | 설명 |
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규격 하한 | 규격 하한 |
규격 상한 | 규격 상한 |
Φ (X) | 표준 정규 분포의 누적 분포 함수(CDF) |
Φ-1 (X) | 표준 정규 분포의 역 CDF |
전체 표준 편차 |
설명
다음을 계산하려면 , 에 대한 공식의 매개변수에 대한 표본 추정치를 대체합니다. :
설명
단측 신뢰 상한을 계산하려면 에게 U의 정의에서.
용어 | 설명 |
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규격 한계를 벗어나는 추정 꼬리 확률 | |
표준 정규 분포의 (1 - α/2)번째 백분위수 | |
α | 신뢰 수준에 대한 알파 |
공정 평균(표본 데이터 또는 과거 값에서 추정됨)공정 평균(표본 데이터 또는 과거 값에서 추정됨) | |
s | 부분군 내 표본 표준 편차 |
υ | s에 대한 자유도 |
표준 정규 분포의 누적분포함수(CDF) | |
표준 정규 분포의 확률 밀도 함수(PDF) | |
규격 상한 | 규격 상한 |
규격 하한 | 규격 하한 |
표준 정규 분포의 역 CDF |
Z.Bench에 대한 신뢰 구간은 공정의 규격 한계에 따라 계산됩니다.
Minitab에서는 다음 방정식을 풀어 p1을 찾습니다.
설명
Minitab에서는 다음 방정식을 풀어 p2을 찾습니다.
설명
용어 | 설명 |
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규격 하한 | 규격 하한 |
규격 상한 | 규격 상한 |
α | 신뢰 수준에 대한 알파 |
표준 정규 분포의 누적분포함수(CDF) | |
표준 정규 분포의 역 CDF | |
표준 정규 분포의 (1 - α/2)번째 백분위수 | |
N | 총 측정값 수 |
υ | s에 대한 자유도 |
공정 평균(표본 데이터 또는 과거 값에서 추정됨)공정 평균(표본 데이터 또는 과거 값에서 추정됨) | |
s | 표본 전체 표준 편차 |
를 사용하여 비중심 T 분포로 분포되는 랜덤 변수 자유도와 비중심성 매개변수 δ |