장치 판독값 비교에 대 한장치 판독값 비교

두 장치가 유사한 측정을 제공하는지 여부를 확인하는 데 사용합니다 직교 회귀 분석 .

이 예제는측정 시스템 분석 선택기 에 적용됩니다. 자세한 내용은 www.minitab.com/measurement-system-analysis-module 으로 이동하십시오.

예

엔지니어는 직교 회귀를 사용하여 두 측정 장치가 동일한지 여부를 결정합니다.

이 워크시트 장치 1 에는 현재 장치의 측정값이 포함되어 있으며 장치 2 새 장치의 측정값이 포함되어 있습니다.

솔루션 모듈 > 기능 > 측정 시스템 분석를 선택한 다음, 발사를 선택합니다.
치우침 연구에서 치우침 연구 선택을(를) 선택합니다.
을 선택한 다음 을 클릭합니다.
직교 회귀 분석을 선택한 다음 확인을 클릭합니다.
에서 반응 변수(Y)비교할 숫자 데이터의 첫 번째 열을 입력합니다. 반응은 Y 변수라고도 합니다.
에서 예측 변수(X)응답과 비교할 숫자 데이터의 두 번째 열을 입력합니다. 예측 변수는 X 변수라고도 합니다.
에서 오차 분산 비율(Y/X), 반응(Y)과 예측 변수(X)의 측정 오차 분산의 비율을 입력합니다. 오차 차이의 추정치를 얻는 한 가지 방법은 X 및 Y에 대해 별도의 게이지 R & R 연구를 수행하는 것입니다.
확인을 클릭합니다.

이 분석에 대한 자세한 내용은 도움말 주 대화 상자에서 클릭합니다.