유형 1 Gage 연구에 대한 모든 통계 및 그래프

유형 1 Gage 연구와 함께 제공되는 모든 통계 및 그래프에 대한 정의 및 해석 방법을 확인해 보십시오.

런 차트

런 차트는 기준 값과 공차 범위에 따라 측정값이 어떻게 달라지는지 보여줍니다. 관측치는 측정 순서로 표시됩니다. 공정에서 치우침 또는 다른 측정 시스템 변동의 증거를 찾으려면 런 차트를 사용하십시오.

런 차트에서 표시된 점들은 표준 부품의 개별 측정값을 측정된 순서대로 나타냅니다. 녹색 수평 기준선(Ref)은 사용자가 지정하는 표준의 기준 값을 나타냅니다. 빨간색 가로선은 기준 값과 공차의 10%로부터 계산됩니다. 빨간색 선 사이의 영역은 공차 범위의 20%(공차 범위의 ±10%)를 나타냅니다. 표시된 모든 점이 공차 범위의 ±10% 내에 있는 경우 측정 시스템에 공정 능력이 있습니다.

기준

기준 값은 알려진 올바른 표준 부품의 측정값입니다. 이는 측정 시스템 분석 중에 비교를 위한 기준 값 역할을 합니다. 예를 들어, 척도 눈금 조정에 사용하는 무게가 0.025g으로 알려진 기준 부품이 있습니다.

이상적으로, 기준 값은 측정하는 특성에 대한 공차 구역의 중심에 가깝습니다.

산업 표준과 회사 및 고객 기대에 따라 여러 방법으로 기준 값을 결정할 수 있습니다. 일반적으로, 기준 값은 더 정확한 측정 장비를 사용하여 반복적으로 측정한 값의 평균을 취하거나 실험실 인증 표준을 사용하여 결정됩니다.

평균

평균은 표준에 대한 모든 측정값의 평균이며, 모든 측정값의 합을 측정값의 수로 나눈 값입니다.

표준 편차

표준 편차는 표준에 대한 모든 측정값의 표준 편차입니다.

표준 편차는 산포, 즉 데이터가 평균을 중심으로 퍼져 있는 정도를 나타내는 가장 일반적인 측도입니다. 표본 표준 편차가 클수록 데이터가 평균 주위로 더 넓게 퍼져 있다는 것을 나타냅니다.

6 * 표준 편차(SV)

연구 변동은 표준 편차의 6배입니다.

기본적으로 각 성분의 연구 변동은 표준 편차의 6배이지만 승수를 변경할 수 있습니다. AIAG는 Gage R&R 연구에서 6을 사용할 것을 권장합니다. 예를 들어, 변동의 99%를 캡처하려면 5.15를 지정합니다.

공차(Tol)

공차는 측정된 성분의 공차 범위이며, 규격 상한과 하한 간의 차이입니다.

치우침

치우침은 측정 시스템 정확도의 측도입니다. 치우침은 기준 부품의 알려진 표준 값과 관측된 측정값 평균의 차이로 계산됩니다.

해석

이상적으로 치우침 값은 0에 가깝습니다. 0이 아닌 값은 다음을 나타냅니다.
  • 양의 치우침은 Gage가 높게 측정한다는 것을 나타냅니다.
  • 음의 치우침은 Gage가 낮게 측정한다는 것을 나타냅니다.

정확하게 측정하는 Gage의 경우에는 %치우침이 작게 나타납니다. 치우침이 통계적으로 유의한지 여부를 확인하려면 p-값을 사용하십시오.

T

T는 치우침 ≠ 0이라는 대립 가설에 대한 t-통계량입니다.

t-검정은 관측된 t-통계량을 자유도가 (n-1)인 t-분포와비교하여 측정 시스템의 치우침이 통계적으로 유의한지 여부를 확인합니다.

p-값

p-값은 t-통계량과 연관됩니다. p-값은 치우침이 0이라는 가정 하에 계산된 값보다 크거나 같은 t-통계량을 얻을 확률입니다. t-통계량이 증가하면 p-값이 감소합니다. 작은 p-값은 치우침 = 0이라는 가정이 참이 아닐 수도 있음을 의미합니다.

Cg

Cg는 공차 범위를 Gage와 측정 시스템의 측정 변동과 비교하는 공정 능력 지수입니다.

해석

Cg 값이 클수록 공정 능력이 더 높은 시스템을 나타냅니다. Cg가 일반적으로 사용되는 벤치마크 값(1.33)보다 작으면 측정 시스템에서 부품을 일관되고 정확하게 측정할 수 없습니다.

공정 능력 지수는 공차 범위가 지정된 경우에만 계산됩니다.

Cg에 대한 자세한 내용은 Minitab의 Cg 측도를 사용한 반복성 측정에서 확인하십시오.

CgK

CgK는 공차 범위를 Gage와 측정 시스템의 치우침 및 측정 변동의 합과 비교하는 공정 능력 지수입니다.

해석

Cgk 값이 클수록 공정 능력이 더 높은 시스템을 나타냅니다. Cgk가 일반적으로 사용되는 벤치마크 값(1.33)보다 작으면 측정 시스템에서 부품을 일관되고 정확하게 측정할 수 없습니다.

공정 능력 지수는 공차 범위가 지정된 경우에만 계산됩니다.

Cgk에 대한 자세한 내용은 Minitab의 Cgk 측도를 사용한 치우침 측정에서 확인하십시오.

해는 지정된 Gage 해입니다.

해에 대한 지침은 해가 공차의 5%보다 크지 않아야 한다는 것입니다. 따라서 해와 공차를 모두 지정한 경우 해가 공차의 5%보다 작거나 같은지 또는 큰지 여부를 계산합니다.

%Var(반복성)

반복성에 대한 %Var(반복성)는 Gage 반복성을 공차와 비교합니다.

%Var(반복성 및 치우침)

반복성 및 치우침에 대한 %Var(반복성)는 Gage 반복성과 치우침을 공차와 비교합니다.

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