다중 변수에 대한 비정규 공정 능력 분석의 전체 공정 능력의 벤치마크 Z에 대한 방법 및 공식

Z.Bench Z.LSL Z.USL

전체 공정 능력에 대한 벤치마크 Z 통계량은 해당 통계량에 대한 표준 정규 (0, 1) 분포를 사용하여 Z 값을 찾음으로써 계산됩니다.

참고

PPL과 PPU는 분석에 사용된 방법(ISO 또는 Minitab)을 기반으로 합니다. 자세한 내용은 비정규 분포 공정 능력 분석의 전체 공정 능력 측도에 대한 방법 및 공식에서 확인하십시오. 공식은 6 표준 편차(공정 평균의 양쪽으로 3 표준 편차씩) 너비인 기본 공차 K = 6을 기반으로 합니다.

표기법

용어설명
P1분석에 사용된 비정규 분포 및 사용자가 지정한 모수(또는 데이터에서 추정된 모수)를 기반으로 하는 확률(관측치 < LSL)
P2분석에 사용된 비정규 분포 및 사용자가 지정한 모수(또는 데이터에서 추정된 모수)를 기반으로 하는 확률(관측치 > USL)
Φ (X) 표준 정규 분포의 누적 분포 함수(CDF)
Φ–1 (X)표준 정규 분포의 역 CDF
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