계수형 합격 표본 추출 계획과 계량형 합격 표본 추출 계획 비교

일반적으로 계수형 계획이 계량형 계획보다 사용하기 쉽습니다. N 단위의 로트 또는 출검 제품에서 n 단위의 표본을 랜덤하게 선택합니다. c 단위 이하의 불량품이 있는 경우 로트를 승인합니다. c 단위보다 많은 불량품이 있는 경우 로트를 거부합니다. 예를 들어, 10,000개의 볼트를 배송받는다고 가정할 경우. 그 중에서 89개를 검사합니다. 0, 1 또는 2개의 불량 볼트가 있는 경우 배송을 승인할 수 있습니다. 불량품이 3개 이상인 경우 볼트의 전체 로트를 거부합니다.

계량형 표본 추출 계획의 경우 표본 추출 계획마다 하나의 측정값만 검사할 수 있습니다. 예를 들어, 웨이퍼 두께와 웨이퍼 너비를 검사해야 할 경우 두 개의 별도 표본 추출 계획이 필요합니다. 계량형 표본 추출 계획에서는 품질 특성이 정규 분포를 따른다고 가정합니다. 그러나 계량형 데이터 사용 시 중요한 이점은 계량형 표본 추출 계획에서는 계수형 표본 추출 계획보다 휠씬 더 작은 표본 크기를 요구한다는 점입니다.

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