가속 수명 검사에 대한 백분위수 표

백분위수 표에는 지정된 가속 변수 수준에서 모집단의 1%가 고장날 것으로 예상되는 시기가 표시됩니다. 백분위수 값을 사용하여 제품이 신뢰도 요구사항을 만족하는지 확인하거나 둘 이상의 제품 설계에 대한 신뢰도를 비교할 수 있습니다.

백분위수 표는 다음과 같은 열로 구성됩니다.
  • 백분율 - 고장날 것으로 예상되는 모집단의 비율.
  • 온도 - 추정치가 제공되는 온도.
  • 백분위수 - 모집단의 1%가 고장날 것으로 예상되는 시기.
  • 표준 오차 - 추정의 변동 측도.
  • 95% 신뢰 구간 - 모수의 참 값을 포함할 가능성이 있는 값의 범위 제공

데이터에 적절한 모형이 있는 경우에만 이러한 값을 사용해야 합니다. 모형이 데이터를 잘 적합하지 않으면 이러한 추정치가 정확하지 않을 수도 있습니다.

출력 예

백분위수 표 95.0% 정규 CI 백분율 온도 백분위수 표준 오차 하한 상한 5 55 759.882 928.717 69.2500 8338.21 5 85 81.0926 63.2317 17.5897 373.855

해석

전자 장치 데이터의 경우 다음과 같은 결과가 표시됩니다.
  • 설계 온도(55°C)에서 CMOS RAM 장치의 5%가 759.882일(약 2년) 후 고장압니다.
  • 최악의 온도(85°C)에서 CMOS RAM 장치의 5%가 81.0926일 후 고장납니다.
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