극단적인 스트레스 수준에서 제품의 성능(일반적으로 수명)을 모형화하고 정상 사용 조건에서의 결과를 추정하려면 가속 수명 검사을 사용합니다.

가속 수명 검사의 목표는 고장 과정의 속도를 개선하여 수명이 긴 제품에 대한 정보를 적시에 파악하는 것입니다. 가속화 방법에는 극단적인 온도, 전압, 압력 등에서의 검사가 포함됩니다.

예를 들어, 정상 조건에서는 마이크로칩이 몇 년 동안 고장나지 않을 수도 있습니다. 그러나 동일한 마이크로칩을 고온 상태로 만들면 몇 시간 안에 고장이 발생합니다. 가속 수명 검사를 통해 고온에서 마이크로칩에 고장이 발생하는 시간 정보를 사용하여 정상 작동 조건에서 언제 고장이 발생할 가능성이 있는지 예측할 수 있습니다.

가속 수명 검사는 수명과 하나 이상의 가속 변수 간의 관계를 평가합니다. 이 검사를 사용하면 다음과 같은 질문에 대답할 수 있습니다.
  • 신뢰성이 높은 성분이 언제 고장날 것으로 예상되는가?
  • 한 요인이 제품의 수명에 어떤 영향을 미치는가?
  • 어떤 요인 설정이 제품의 수명을 최대화하는가?

이 분석의 위치

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대체 분석 사용 시기

반응 데이터가 수명의 계량형 측정값(또는 다른 단위) 대신 (두 가지 결과만 가능한) 이항 데이터인 경우 프로빗 분석을 사용합니다.

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