전류 누출 데이터

한 신뢰성 공학 엔지니어가 전자 장치의 트랜지스터 간의 전류 누출을 조사하려고 합니다. 이 데이터를 사용하여 가속 수명 검사을 시연할 수 있습니다.

한 신뢰성 공학 엔지니어가 전자 장치의 트랜지스터 간의 전류 누출을 조사하려고 합니다. 전류 누출이 일정 임계값에 도달하면 전자 장치에 고장이 발생합니다. 검사를 위해 고장을 가속화하기 위해 정상 온도보다 훨씬 높은 온도에서 장치가 검사되었습니다. 고장 여부를 확인하기 위해 격일로 장치를 검사했습니다.

이 데이터를 사용하여 가속 수명 검사을 시연할 수 있습니다. Arrhenius 온도와 고장 간의 관계는 선형입니다.

워크시트 열	설명
시작시간	검사 간격의 시작 시간(일)
종료시간	검사 간격의 끝 시간(일). 장치를 격일로 검사했습니다.
개수	와 종료시간사이의 테스트 구간 시작시간 내에 고장난 장치의 수입니다.
온도	장치가 노출된 온도
새 온도	예측 목적의 온도. 55°C는 설계 온도이고 85°C는 최악의 온도입니다.

1행은 테스트 시작부터 2일차 첫 검사까지 125°C에 노출된 장치가 고장 나지 않았음을 나타냅니다. 8행은 14일차부터 16일차 테스트 종료까지 125°C에 노출된 46개의 장치가 여전히 작동 중임을 나타냅니다.

다운로드 전류누출.MWX