実証試験計画は、実証試験と信頼性試験の2種類です。
実証試験の場合、仮説は次のようになります。
- H0: 再設計したシステムは現在のシステムと変わりません。
- H1: 再設計したシステムは現在のシステムより改善されています。
信頼性試験の場合、仮説は次のようになります。
- H0: システムの信頼性は指定値と同じです。
- H1: システムの信頼性は指定値より大きくなっています。
次の値で仮説を定義できます。
- 尺度（ワイブル分布または指数分布）、または位置（その他の分布）
-
- H0: 位置（ワイブル/指数の尺度） = T
- H1: 位置（ワイブル/指数の尺度） > T
- 百分位数
-
- H0: P番目の百分位数 = T
- H1: P番目の百分位数 > T
- 特定時間での信頼性
-
- H0: 時間での信頼性 = p
- H1: 時間での信頼性 T > p
- 平均故障時間（MTTF）
-
- H0: MTTF = T
- H1: MTTF > T
実証試験に合格する（故障数 ≤ M）場合、実証試験計画に選択した信頼性（デフォルト95%）でH0を拒否します。
実証試験に不合格する（故障数 > M）の場合、H0を拒否できません。Mは、実証試験計画で許容される最大故障数です。
