加速寿命試験の解釈要約

加速寿命試験では、過度なストレス水準での故障時間をモデル化し、通常の使用条件への外挿に使われる1つの予測変数を伴う回帰を行います。この回帰における予測変数は加速変数で、その水準は通常実際の使用条件に見られる水準を超えるものです。より過度なストレス水準下での推定値を通常の使用条件へ外挿できるモデルを見つけるには、工学的知識が必要です。

加速寿命試験の結果には次が含まれます。

回帰表。故障時間を予測するモデルを表します。
適合度の測度。異なるモデルの適合性を評価するのに役立ちます。
百分位数表、生存確率表、および関係プロット。製品の信頼性を評価するのに役立ちます。
残差に対する確率プロット。モデルの仮定が適切かどうかを評価するのに役立ちます。

データの説明

電子装置内のトランジスタ間で電流の一部が漏れています。漏電がある限界に達すると、電子装置はショートします。漏電は温度が高くなると増加します。メーカーは55°Cの設計温度と最悪事例温度85°CにおけるB5ライフを推定するために電子装置を検定します。

この装置は正常な動作条件で数年稼動すると予測されるため、故障するまで稼動させるという検定方法は実用的ではありません。装置をもっと早く故障させるには、通常温度より高い温度で検定します。漏電があるしきい値に達すると、装置は故障します。装置は、故障がないかどうか2日ごとに点検されます。

メーカーは、Arrhenius変換を伴うワイブル分布を選択して、データをモデル化します。

データ: 漏電.MTW