工程変動の割合 | 許容性 |
---|---|
10%未満 | 測定システムは許容されます。 |
10%から30% | 測定システムは、アプリケーション、測定装置のコスト、修復のコスト、または他の要因に応じて許容されます。 |
30%を超える | 測定システムは許容されません。 |
分散成分の割合 | 許容性 |
---|---|
1%未満 | 測定システムは許容されます。 |
1%から9% | 測定システムは、アプリケーション、測定装置のコスト、修復のコスト、または他の要因に応じて許容されます。 |
9%を超える | 測定システムは許容されません。 |
管理図の中でもまたAIAGでは、測定システムで工程出力が区分される知覚区分数は、5以上であることを推奨しています。
WheelerのEMP研究のガイドラインでは、測定システムをクラス内相関係数を持つクラスに分類しています。 Wheeler (2006) 2 では、EMP 交差スタディの計算、出力、および分類について説明します。実際には、係数は、測定システムが少なくとも3標準偏差の工程平均のシフトをどの程度検出するかを説明します。第1級および第2級の測定システムは、通常、管理図上の限られた数の検定とサブグループで、このようなシフトを検出する確率が高くなります。第3クラスの測定システムでは、標準的な分析で管理図に検定が追加され、工程平均のシフトを検出する確率が高まります。第4クラスの測定システムは、通常、プロセスの監視またはプロセス改善活動のために改善が必要です。
分類 | 組内相関 | プロセス信号の減衰 | 警告の確率、テスト1* | 警告の確率、テスト* |
---|---|---|---|---|
第1組 | 0.80 - 1.00 | 11%未満 | 0.99 - 1.00 | 1.00 |
第2組 | 0.50 - 0.80 | 11 - 29% | 0.88 - 0.99 | 1.00 |
第3組 | 0.20 - 0.50 | 29 - 55% | 0.40 - 0.88 | 0.92 - 1.00 |
第4組 | 0.00 - 0.20 | 55%超 | 0.03 - 0.40 | 0.08 - 0.92 |
この 2 つの基準は、異なる結論を導き出します。WheelerのEMP分析の分類は、AIAGの方法論に従ったゲージR&R分析の分類ほど厳密ではありません。
組内相関 | 工程変動 | AIAGの | EMPの |
---|---|---|---|
99% | 10% | 許容できる | 一流 |
91% | 30% | 周辺 | 一流 |
80% | 45% | 改善が必要 | 一流 |
50% | 71% | 改善が必要 | 二等 |
20% | 89% | 改善が必要 | 丙種 |
0% | 100% | 改善が必要 | 第4種 |
自動車産業におけるAIAG基準の開発は、厳しい公差を満たすために測定から高精度を必要とするプロセスの伝統から来ています。EMP基準の開発は、プロセス改善活動のためにプロセス平均の変化を検出するために測定システムを使用する伝統に由来しています。