ある品質エンジニアは、電球を製造する工程が正常に管理されているかどうかを評価します。エンジニアは、3つの8時間シフトで1時間ごとに500個の電球を試験し、光らなかった電球（不良）の数を記録します。
エンジニアは、NP管理図を作成して不良電球の数を監視します。
- サンプルデータを開く不良電球.MTW。
- を選択します。
- 変数に不良を入力します。
- サブグループサイズに「500」と入力します。
- NP管理図オプションをクリックします。
- 検定タブをクリックし、1点>中心線からのK標準偏差（テスト1）および連続するK点が中心線の片側にある（テスト2）を選択します。特定の状況でどのテストを適用すべきかわからない場合は、最初にデータに基づく管理限界を確立するときに、テスト1と2を使用します。
- 各ダイアログボックスでOKをクリックします。
結果を解釈する
NP管理図で1つの点が管理外です。エンジニアは、工程が安定しておらず、改善が必要と結論します。
不良のNP (移動範囲) 管理図
不良のNP (移動範囲) 管理図
不良のNP管理図の検定結果
検定1。1点が中心線から3.00標準偏差を超えています。
検定が不合格となった点: 16
