C管理図の主要な結果を解釈する

C管理図には、サブグループサイズが等しい場合のサブグループあたりの欠陥（不適合性とも呼ばれます）の数がプロットされます。1つの品目に1つ以上の欠陥が存在していても、その機能および性能は許容可能な場合があります。中心線は、サブグループあたりの欠陥の平均数を表します。管理限界は、中心線の上下3標準偏差の距離で設定され、欠陥率で予期される変動量を示します。

赤の点は、サブグループが特殊原因についてのテストの1つ以上で不合格となり、正常に管理されていないことを示しています。同時に複数のテストで不合格となった場合は、その中で最も小さいテスト番号のみが表示されます。管理図に管理外の点がある場合は、それらの点を調査します。

管理外の点が特殊原因による場合、それらの点を計算から除外することを検討します。詳細は、C管理図のパラメータを推定するサブグループを指定するを参照してください。

これらの結果で、技術者は各サンプルに平均で10個の常時消灯ドットがあることを発見します。サンプル17は管理外です。技術者は、常時消灯ドット数が異常に多いことに寄与したと考えられる特殊原因を特定する必要があります。赤い点にポインタを置くと、そのサブグループの詳細が表示されます。

特殊原因についての検定に失敗したサブグループを調べます。デフォルトでは、管理限界の外にある点を検出する検定1のみが行われます。追加の検定を行うと、点は複数の検定で不合格となる可能性があります。次に示すように、出力には各検定で具体的にどの点が不合格となったかが表示されます。

これらの結果はサブグループ17が検定1に不合格となったことを示します。

各検定の詳細、およびそれらの検定を使用する場合については、管理図での特殊原因についての検定の使用を参照してください。