C管理図を使用して、各品目に複数の欠陥がある可能性がある場合に、ユニットあたりの欠陥の数を監視します。C管理図は、サブグループのサイズが同じ場合にのみ使用します。この管理図を使用して、時間の経過に伴う工程の安定性を監視することで、工程における不安定性を特定、是正することができます。
たとえば、LCDの製造メーカーが17インチのLCD画面の欠陥を監視するとします。技術者は、10画面で構成されるサブグループごとに1時間あたりの常時消灯ドットの数を記録し、C管理図を使用して常時消灯ドットの数を監視します。
管理図により技術者は、各サンプルに平均10個の常時消灯ドットがあることを発見します。サンプル17は管理外です。技術者は、常時消灯ドット数が異常に多いことに寄与したと考えられる特殊原因を特定する必要があります。
この管理図の場所
C管理図を作成するには、を選択します。
代替管理図を使用する場合
-
サブグループのサイズが等しくない場合は、U管理図またはLaney U′管理図を使用します。
- 各品目が不良品か非不良品かどうかのみ判断できる場合は、P管理図またはLaney P′管理図を使用して欠陥品の比率をプロットするか、またはNP管理図を使用して欠陥品の数をプロットします。
- データが過分散や過小分散になっている場合は、Laney U′管理図によって一般原因による変動と特殊原因による変動をより正確に区別することができます。過分散の場合にはC管理図での管理限界外の点の数が増える可能性があります。過小分散の場合には、C管理図での管理限界外の点の数が過度に少なくなる可能性があります。Laney U'管理図では、これらの状態が調整されます。過分散と過小分散についてデータを検定する場合は、U管理図診断を使用できます。詳細は、過分散と過小分散を参照してください。
