受入I-MR管理図 を使って、規格外の割合が許容レベルを超えているかを検出し、変動範囲を用いて変動を監視します。 連続したデータで個々の観測データがある場合に使います。
例えば、品質エンジニアはパッケージ製品の目標充填重量からの偏差を監視します。偏差は0.1オンス単位で測定されます。上限規格は目標より26単位高くなっています（1単位は0.1オンス）。規格上限を超えると予想されるプロセス出力が1%以下である限り、プロセスのシフトは許容されます。エンジニアは適切な時間間隔で160個のパッケージを測定し、受入I-MR管理図を作成します。
MR管理図には異常な変動の証拠が見られず、エンジニアは受入I管理図を解釈できます。2つの観測値は上限受入制御限界を超えています。これらのポイントは、プロセスが上限仕様限界に十分にシフトし、プロセス出力の1%以上が仕様限界を超える可能性があることを示しています。
この管理図の場所
受入I-MR管理図を作成するには、 を選択します。
代替管理図を使用する場合
- サブグループでデータを収集できる場合は、 受入Xbar-R管理図 や 受入Xbar-S管理図を使いましょう。
