用語 | 説明 |
---|---|
USL | 上側規格限界 |
LSL | 下側規格限界 |
η | 工程中央値 |
Xpu | 許容範囲からの上位経験的百分位数 |
Xpl | 許容範囲からの経験的パーセンタイルが低い |
分析では、経験的百分位数を使用して、プロセスの広がりを推定します。まず、分析では許容値を使用して、計算する百分位数を見つけます。
ここで、 Z は標準正規分布からの百分位数、 T は許容誤差です。たとえば、許容誤差が 6 の場合、pU = P(Z < 3) = 0.99865.許容誤差が 6 の場合、pL = P(Z < −3) = 0.00135.規格限界が2つの工程では、許容差6はデータの約99.7%をカバーします。
次に、分析はデータから経験的百分位数を計算します。
用語 | 説明 |
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p | 100で割った、目的の百分位数以下のデータのパーセント |
Xy | データが最小から最大にソートされたときのデータの y番目の 行 |
y | wの切り捨てられた値 |
w | p(N + 1) |
N | 非欠損データを含む行の数 |
z | w – y |
McCormack, D. W., Harris, I. R., Hurwitz, A., M., & Spagon, P. D. (2000). Capability indices for non-normal data. Quality Engineering, 12(4), 489-495.