測定値が下側規格限界より小さい部品の100万個あたりの数は、次のように計算されます。

| 用語 | 説明 |
|---|---|
| LSL | 下側規格限界 |
| N | 合計観測値数 |
測定値が上側規格限界より大きい部品の100万個あたりの数は、次のように計算されます。

| 用語 | 説明 |
|---|---|
| USL | 上側規格限界 |
| N | 合計観測値数 |
規格限界外にある100万個あたりの合計部品数は、次のように計算されます。


| 用語 | 説明 |
|---|---|
| LSL | 下側規格限界 |
| USL | 上側規格限界 |
| N | 合計観測値数 |
信頼区間の計算は、結果を正しい単位に変換する最後のステップを除いて、PPMとパーセントで同じです。次の式は、両側100(1 –
)%信頼区間。片側信頼区間を見つけるには、
と (1 –
).


数式の結果をPPMに変換するには、1,000,000を掛けます。
数式の結果をパーセンテージに変換するには、100を掛けます。
規格限界外に観測単位がない場合、下側信頼限界は0です。すべての観測単位が規格限界外にある場合、上側信頼限界は1です。
| 用語 | 説明 |
|---|---|
![]() | 下側信頼限界 |
![]() | 上側信頼限界 |
| n | 合計個数 |
![]() | ユニットが仕様外であるという経験的確率:不良品/合計。 |
![]() | (1 – 標準正規分布からの)/2百分位数 |
![]() | 1 – 信頼レベル |
Newcombe, R. G. (1998). Two-sided confidence intervals for the single proportion: comparison of seven methods. Statistics in Medicine, 17(8), 857-872.
Tong, L. I., & Chen, J. P. (1998). Lower confidence limits of process capability indices for nonnormal process distributions. International Journal of Quality & Reliability Management, 15(8/9), 907-919.