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デバイスの読み取り値を比較するの散布図

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2 つの類似したデバイスからの測定値を、予想される測定範囲にわたって比較するために使用します 散布図 。

この例は、 測定システム分析セレクター に適用されます。詳細については、www.minitab.com/measurement-system-analysis-module を参照してください。

例

ワークシートにおいて、装置1 はY変数で、装置2 はX変数です。

C1 C2
装置1 装置2
1.13 1.15
1.22 1.23
1.34 1.31
1.42 1.41
1.20 1.21
1.28 1.26
1.30 1.32

使用方法

  1. を選択し ソリューション モジュール > 能力 > 測定システム分析、 を選択します 打ち上げる。
  2. バイアス研究 で、バイアス調査の選択 を選択します。
  3. デバイスの読み取り値を比較するを選択し、OKをクリックします。
  4. 散布図を選択し、OKをクリックします。
  5. Y変数に、測定データが含まれている列を入力します。
  6. X変数に、誤差データが含まれている列を入力します。
  7. OKをクリックします。
ヒント

この解析の詳細については、メイン ヘルプ ダイアログ ボックスをクリックしてください。

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