変数抜取検査(ロットの合格・不合格)の方法と計算式

Minitabでは、サンプリングされた商品の測定値と変数受入サンプリング計画の基準(サンプルサイズと限界距離)に基づいて、合格・不合格の判定を計算します。

まず(過去の標準偏差を指定していない場合)データの平均と標準偏差が計算されます。

平均
標準偏差
規格限界の合格基準
最大標準偏差(MSD)
2つの規格限界と未知の標準偏差がある場合、MSDはロットに合格・不合格の判定をする役割があります。MSDの計算については変数抜取検査(作成・比較)の方法と計算式を参照してください。

過去の標準偏差を指定したときのZの計算には、sの代わりにσを使用します。

単一規格限界
対応するZ値を計算します。下側規格のみの場合、Z.LSL ≥ kであればロットを合格にし、そうでない場合はロットを不合格にします。上側規格のみの場合、Z.USL ≥ kであればロットを合格とし、そうでない場合は不合格とします。
二重規格限界と既知の標準偏差
規格ごとのZ値は計算されています。Z.LSL ≥ kかつZ.USL ≥ kの場合はロットを合格とし、それ以外の場合は不合格とします。
二重規格限界と未知の標準偏差
規格ごとのZ値とMSDは計算されています。s ≤ MSD、Z.LSL ≥ kかつZ.USL ≥ kの場合はロットを合格とし、それ以外の場合は不合格とします。

表記

用語説明
Xi測定データ
平均
s推定標準偏差
σ既知の標準偏差
nサンプルサイズ
k限界距離
L下側規格限界
U上側規格限界
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