寿命データでの回帰分析の標準化残差に対する確率プロット

標準化残差の確率プロットを使用して次の点を判断します。
  • 分布仮説が適切かどうか
  • 等形状パラメータ(ワイブルまたは指数)あるいは等尺度パラメータ(その他の分布)の仮説が適切かどうか

標準化残差に対する確率プロットは、データを組み合わせて1本の適合線を計算し、プロットされた点が適合線にしっかり従っているかどうか簡単に判断できるようにします。プロットされた点が適合線に従っている場合、仮説は適切です。プロットされた点が適合線に従っていない場合、仮説のいずれかまたは両方が誤っている可能性があります。

出力例

解釈

コンプレッサーケースデータの場合、プロットされた点が適合線に従っています。このため、このプロットは仮説が適切であることを示します。

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