実証試験計画の仮説

実証試験計画は、実証試験と信頼性試験の2種類です。

実証試験の場合、仮説は次のようになります。
  • H0: 再設計したシステムは現在のシステムと変わりません。
  • H1: 再設計したシステムは現在のシステムより改善されています。
信頼性試験の場合、仮説は次のようになります。
  • H0: システムの信頼性は指定値と同じです。
  • H1: システムの信頼性は指定値より大きくなっています。
次の値で仮説を定義できます。
尺度(ワイブル分布または指数分布)、または位置(その他の分布)
  • H0: 位置(ワイブル/指数の尺度) = T
  • H1: 位置(ワイブル/指数の尺度) > T
百分位数
  • H0: P番目の百分位数 = T
  • H1: P番目の百分位数 > T
特定時間での信頼性
  • H0: 時間での信頼性 = p
  • H1: 時間での信頼性 T > p
平均故障時間(MTTF)
  • H0: MTTF = T
  • H1: MTTF > T

実証試験に合格する(故障数 ≤ M)場合、実証試験計画に選択した信頼性(デフォルト95%)でH0を拒否します。

実証試験に不合格する(故障数 > M)の場合、H0を拒否できません。Mは、実証試験計画で許容される最大故障数です。

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