加速寿命試験計画の解釈要約

加速寿命試験計画を使用して、加速寿命試験の試験ユニット数を算出したり、試験ユニットをどのようにストレス水準に割り当てるか決定することができます。加速寿命試験計画では、右打ち切り、区間打ち切りのデータを使用できます。

加速寿命試験計画を取得するには、ストレス水準と、オプションで試験単位の比例割り当てを入力します。計算された計画が評価され、分散を最小に抑える最適な計画が表示されます。

データの説明

85、105、125度の加速温度でコンデンサを試験し、45度の通常使用条件での1,000時間の信頼性を判断するものとします。100個のコンデンサが利用可能で、次の計画情報があるとします。
  • 故障時間は傾向として指数分布に従います。
  • 切片が-8.0で傾きが0.5のArrheniusの関係が、対数故障時間と温度との関係を適切にモデル化します。
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