漏電データ

ある品質エンジニアが、電子装置内のトランジスタ間の漏電を調査したいと考えています。漏電が特定のしきい値に達すると電子装置は故障します。試験での故障を加速させるため、装置は通常よりも大幅に高い温度で試験されました。装置は、故障がないかどうか2日ごとに点検されました。

このデータを使用して、加速寿命試験について説明することができます。アレニウス温度と故障の関係は線形です。

ワークシートの列 説明
開始日 試験区間の開始日
終了日 試験区間の終了日。装置は2日ごとに点検されました。
故障数 開始日終了日の間のテスト区間で故障した装置数
温度 装置がさらされた温度
新しい温度 予測目的の温度。55℃が設計温度で、85℃が最悪事例温度です。

行1は、試験開始から2日目の初回の点検までの間に125℃にさらされて故障した装置がなかったことを示しています。行8は、14日目から16日目の試験終了までの間に125℃にさらされてまだ機能していた装置が46個あったことを示しています。

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