漏電データ

ある品質エンジニアが、電子装置内のトランジスタ間の漏電を調査したいと考えています。このデータを使用して、加速寿命試験について説明することができます。

ある品質エンジニアが、電子装置内のトランジスタ間の漏電を調査したいと考えています。漏電が特定のしきい値に達すると電子装置は故障します。試験での故障を加速させるため、装置は通常よりも大幅に高い温度で試験されました。装置は、故障がないかどうか2日ごとに点検されました。

このデータを使用して、加速寿命試験について説明することができます。アレニウス温度と故障の関係は線形です。

ワークシートの列 説明
開始日 テスト間隔の開始時刻は日単位です。
終了日 テスト間隔の終了時間、つまり日数です。装置は2日ごとに点検されました。
故障数 開始日 から 終了日までのテスト間隔内に故障したデバイス数。
温度 装置がさらされた温度
新しい温度 予測目的の温度。55°Cが設計温度、85°Cが最悪の場合の温度です。

行1は、試験の開始から2日目の最初の検査までの区間で、125°Cにさらされた装置の中で故障したものはないことを示しています。行8は、14日目から16日目に試験が終了するまでの区間で、125°Cにさらされた装置の中で、46台はまだ機能していたことを示しています。