Dans un plan de test à m défaillances, le test de démonstration de fiabilité réussit si le nombre de défaillances qui se produisent ne dépasse pas m. Les tests à m défaillances les plus courants sont le test à 0 défaillance (m = 0) ou le test à 1 défaillance (m = 1).
Par exemple, supposons que vous testiez des moteurs de tondeuse à gazon à l'aide d'un test à m défaillances dans lequel m est égal à 3. Le test de fiabilité est réussi si 3 défaillances au maximum se produisent parmi n systèmes identiques testés indépendamment et soumis à la même durée de test. Si plus de 3 défaillances se produisent, le test de fiabilité échoue et le système ne répond pas aux exigences de fiabilité que vous souhaitez démontrer.
Plan de test à 0 défaillance | Plan de test à m défaillances (m > 0) | |
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Temps total de test | Peut réduire le temps de test total des éléments très fiables. | Peut réduire le temps de test total si vous êtes en mesure d'effectuer les tests séquentiellement. Par exemple, si vous testez 3 unités dans le cadre d'un test à 1 défaillance et que les deux premières unités réussissent le test, il est alors inutile d'effectuer le troisième test. |
Aspect pratique | N'est pas pratique lorsqu'au moins une défaillance risque de se produire. | Risque de ne pas être réalisable dans le cadre d'unités très fiables.
A plus de chances de réussir qu'un test à 0 défaillance en présence d'un plan légèrement amélioré. |
Vérification des hypothèses | Ne vous permet pas de vérifier les hypothèses du plan de test :
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Vous permet de vérifier les hypothèses du plan de test. Il existe plusieurs hypothèses à prendre en compte lorsque vous utilisez un plan de test à m défaillances :
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