Test accéléré de durée de vie - Généralités

Utilisez la fonction Test accéléré de durée de vie pour modéliser les performances d'un produit (généralement des temps de défaillance) à des niveaux de stimulation élevés et pour extrapoler les résultats pour des conditions d'utilisation normales.

L'objectif d'un test accéléré de durée de vie est d'accélérer le processus de défaillance de manière à obtenir des informations rapides sur les produits qui ont une longue durée de vie. Parmi les méthodes d'accélération, citons les tests réalisés dans des conditions de température, de tension ou de pression extrêmes.

Par exemple, dans des conditions normales, une puce peut ne pas connaître de défaillance avant des années. En revanche, la même puce soumise à des températures élevées mourra en quelques heures. Avec un test accéléré de durée de vie, vous pouvez utiliser les informations indiquant à quel moment les puces tombent en panne lorsqu'elles sont soumises à des températures élevées pour prévoir à quel moment les défaillances sont susceptibles de se produire dans des conditions normales d'utilisation.

Un test accéléré de durée de vie évalue la relation entre la durée avant défaillance et au moins une variable d'accélération. Ce test permet de répondre aux types de questions suivants :

A quel moment des composants très fiables devraient‑ils présenter une défaillance ?
Quel est l'effet d'un facteur sur la durée de vie d'un produit ?
Quels sont les paramètres de facteurs qui maximisent la durée de vie du produit ?

Où trouver cette analyse ?

Pour effectuer un test accéléré de durée de vie, sélectionnez Stat > Fiabilité/Survie > Test accéléré de durée de vie.

Quand utiliser une autre analyse ?

Si les données de réponse sont binaires (deux résultats possibles uniquement), et non des mesures continues de temps de défaillance (ou d'autres unités), utilisez la fonction Analyse Probit.