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Exemple de Plan de test accéléré de durée de vie

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Un ingénieur teste des condensateurs aux températures accélérées de 85, 105 et 125 degrés pour déterminer la fiabilité au bout de 1000 heures dans des conditions normales d'utilisation, à 45 degrés. L'ingénieur dispose de 100 condensateurs pour le test. Il utilise les informations suivantes pour les plans de test.
  • Les temps de défaillance ont tendance à suivre la loi exponentielle.
  • La relation d'Arrhenius avec une ordonnée à l'origine de −8,0 et une pente de 0,5 modélise de manière appropriée la relation entre le log du temps de défaillance et la température.
  1. Sélectionnez Stat > Fiabilité/Survie > Plans de test > Test accéléré de durée de vie.
  2. Sous Paramètre à estimer, sélectionnez Fiabilité au temps et saisissez 1000.
  3. Dans la zone Effectifs d'échantillons ou précisions comme distances de la borne de l'IC à estimer, sélectionnez Effectif d'échantillon et indiquez 100.
  4. Dans la zone Loi de distribution, sélectionnez Exponentielle. Dans la zone Relation, sélectionnez Arrhenius.
  5. Sous Spécifiez les valeurs prévisionnelles de deux des éléments suivants, dans la zone Ordonnée à l'origine, saisissez -8. Dans la zone Pente, saisissez 0,5.
  6. Cliquez sur Contraintes.
  7. Dans la zone Contrainte d'usage, saisissez 45. Dans la zone Contraintes à tester, saisissez 85 105 125.
  8. Cliquez sur OK dans chaque boîte de dialogue

Interpréter des résultats

Minitab évalue les plans de test obtenus et affiche les meilleurs, c'est-à-dire ceux qui minimisent le degré de précision ou l'effectif d'échantillon requis. Si c'est vous qui indiquez l'effectif d'échantillon, le meilleur plan de test d’allocations "optimal" est celui ayant la plus petite erreur type pour le paramètre qui vous intéresse.

Pour estimer la fiabilité au bout de 1000 heures pour la contrainte d'usage de 45 degrés à l'aide du plan optimal, l'ingénieur doit tester le nombre suivant d'unités pour chaque température accélérée :
  • Tester 63 unités à 85 degrés
  • Tester 4 unités à 105 degrés
  • Tester 33 unités à 125 degrés

Les paramètres de ce plan de test ne tronquent pas les niveaux de contrainte, le plan prévoit donc que le test se poursuive jusqu'à l'échec de toutes les unités.

L'erreur type pour les trois plans étant très proche, l'ingénieur doit également prendre en compte des critères supplémentaires pour choisir le plan d'allocations, en déterminant par exemple le plan qui génère le plus de défaillances ou celui qui est le moins coûteux à exécuter.

Planification de la loi

Loi de
distribution		Ordonnée à
l'origine		Pente
Exponentielle-80,5 
Données non tronquées
Modèle Arrhenius
Paramètre estimé : Fiabilité à la durée prévue = 1000
Estimation calculée de la planification = 0,964857
Valeur de contrainte du plan = 45
Plans de tests sélectionnés : plans de tests d'allocation “Optimum”
Total d'unités d'échantillons disponibles = 100

1er meilleur plan de test d'allocations “Optimum”

Contrainte
de test		Pourcentage
de défectueux		Alloc. de
pourcentages		EchantillonsDéfaillances
attendues
85  10063,33336363
105  1003,958344
125  10032,70833333
Erreur type du paramètre d'intérêt = 0,0123437

2e meilleur plan de test d'allocations “Optimum”

Contrainte
de test		Pourcentage
de défectueux		Alloc. de
pourcentages		EchantillonsDéfaillances
attendues
85  10068,33336868
105  1003,958344
125  10027,70832828
Erreur type du paramètre d'intérêt = 0,0124673

3er meilleur plan de test d'allocations “Optimum”

Contrainte
de test		Pourcentage
de défectueux		Alloc. de
pourcentages		EchantillonsDéfaillances
attendues
85  10058,33335858
105  1008,958399
125  10032,70833333
Erreur type du paramètre d'intérêt = 0,0126711
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