Un fabricant de semi-conducteurs souhaite inspecter des matrices sur des plaquettes de semi-conducteurs de 5 lots différents. Ils donnent à chaque matrice une coordonnée X et Y, puis ils inspectent le nombre de défauts sur chaque matrice.
- Ouvrez les données d’échantillonnage, Semiconducteurs.MWX.
- Choisissez , puis sélectionnez-le Diagramme de wafer dans la liste des graphiques.
- Dans Coordonnées X, saisissez X. Dans Coordonnées Y, saisissez Y.
- Dans Variable de réponse, saisissez Défauts.
- Dans Variable de répartition , entrez Lot. Dans Modèle, sélectionnez Dans des panneaux distincts d'un graphique.
- Sélectionnez Créer.
Interpréter les résultats
Le fabricant inspecte le tracé des plaquettes à la recherche de zones contenant un grand nombre de défauts. Le lot 5 présente un grand nombre de défauts, en particulier des matrices avec des valeurs de coordonnées Y très élevées et très faibles. Le fabricant décide de ne pas utiliser ces matrices pour produire des semi-conducteurs.
