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Si tienes un producto existente que se configuró manualmente, puedes añadir un ID externo para que puedas actualizar fácilmente con configuraciones automáticas.
Para añadir nuevos o modificar IDs externos existentes, debes contar con el siguiente permiso: Editar ID externos. Abre el Portal de administración, y luego abre la Roles página para añadir este permiso a tu rol. Para obtener más información, vaya a Roles de usuario y permisos.
Solo se pueden modificar los Producto IDs , Proceso, Estación, y Plan de muestreo externos. Medir y Descriptor los IDs externos son de solo lectura.
No se recomienda cambiar IDs externos porque las configuraciones automáticas dependen de ellos. Si cambias un ID externo, asegúrate de que todas las configuraciones afectadas estén actualizadas adecuadamente para evitar problemas de configuración.
Los descriptores son variables categóricas que identifican observaciones individuales o subgrupos. Por ejemplo, su empresa puede recopilar números de lote de proveedores, identificadores de turnos e identificadores de dispositivos de medición. Puedes añadir marcadores de descriptor a los gráficos de control de cada proceso de producto.
Para crear un nuevo plan de muestreo, el proceso debe tener al menos una medición. No se puede crear un nuevo plan de muestreo solo con variables descriptoras.
Puedes añadir planes de muestreo a Medidas de proceso, Medidas de salida, Medidas defectuosas, Defectos agrupados, Unidades defectuosas agrupadas, y Descriptores configuraciones.
Para defectos agrupados y deficientes agrupados, todos Agregar al plan de muestreo los valores deben ser Yes o todos deben ser No. Los valores inconsistentes se sustituyen por el valor por defecto de Yes.
Para añadir defectos agrupados y deficientes agrupados a un formulario de recogida de datos, Agregar al plan de muestreo los valores deben ser Yes y Habilitar en proceso de producto los valores deben ser Yes.
El tipo de carta de control disponible depende del tipo de medida.
Para cartas de control continuas, Tipo es opcional en Medidas de proceso y Medidas de salida configuraciones.
Las opciones válidas de tipo gráfico de control continuo son: imr, xbarr, xbars, imrrs, . ewma Si no se especifica, o si es una entrada inválida, se utilizan los valores predeterminados del gráfico de control, basados en el tamaño del subgrupo.
Para los gráficos de control de defectos, Tipo es opcional en configuraciones Defectos agrupados .
Las opciones de tipo válidas son: c, u, uprime.
Si no se especifica, o si es una entrada inválida, se utiliza el valor predeterminado de c .
Para los cuadros de control defectuosos, Tipo es opcional en Medidas defectuosas y Unidades defectuosas agrupadas configuraciones.
Las opciones de tipo válidas son: np, p, pprime.
Si no se especifica, o si es una entrada inválida, se utiliza el valor predeterminado de np .
Especificar el método para el cálculo del límite de control es opcional. A menos que se especifiquen todos los parámetros, los límites de control se calculan con datos recientes.
Si algún parámetro es nulo, se ignoran todos los demás parámetros especificados. Si no se proporciona el tamaño del subgrupo, por defecto se reduce a 1.
Los tipos de gráficos de imr, xbarr, xbars, y ewma requieren tanto Media y Desviación estándar para límites de control fijos.
Los tipos de gráficos requieren imrrs Media, Desviación estándar (entre subgrupos), y Desviación estándar (dentro de los subgrupos) para límites de control fijos.
Los tipos de gráficos de c, u, y uprime requieren Defectos Medios para límites de control fijos. Uprime Los cartos también requieren Sigma Z.
Tipos de gráficos de np, p, y pprime requieren Proporción de elementos defectuosos para límites de control fijos. Pprime Los cartos también requieren Sigma Z.
Especificar límites de contenido neto es opcional en Medidas de salida y Medidas de proceso configuraciones.
Tipo de límite = Net Content Limits
Si especificas un error tolerable 1 o un error tolerable 2, entonces debes especificar ambos.
Puedes especificar la cantidad de datos que debes usar para los cálculos iniciales del límite de control.
Especificar el número por defecto de observaciones/subgrupos para cálculos de límites de control es opcional en Medidas de proceso, Medidas de salida, Medidas defectuosas, Defectos agrupados, y Unidades defectuosas agrupadas configuraciones.
Especificar los límites de especificación es opcional en Medidas de proceso, Medidas de salida, Medidas defectuosas, Defectos agrupados, y Unidades defectuosas agrupadas configuraciones.
Tipo de límite = Specification Limits
Las configuraciones de Defects y Defectives solo tienen especificaciones superiores, no inferiores.
Solo valores numéricos, UAL > LAL.
Especificar tamaños de subgrupos por defecto para los planes de muestreo es opcional en Medidas de proceso, Medidas de salida, Medidas defectuosas, Defectos agrupados, y Unidades defectuosas agrupadas configuraciones.
Los valores objetivo son opcionales. Si introduces un valor objetivo, Real-Time SPC calculas Cpm, un índice de capacidad que considera cuánto se desvían los datos del objetivo.
Opcional en Medidas de proceso, Medidas de salida, Medidas defectuosas, Defectos agrupados, y Unidades defectuosas agrupadas configuraciones.
Los valores de peso son opcionales con tablas de control EWMA.
Medidas de proceso y Medidas de salida configuraciones, cuando las Tipo cartas de control se establecen en ewma.
Los valores de peso deben ser valores numéricos entre 0 y 1 o diferentes.
Si los Tipo gráficos de control no están configurados en ewma, se ignora el peso. Se requiere el tamaño del subgrupo y se pondrá en 1 si falta.
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