Aviso
Ahora estás saliendo de support.minitab.com.
Haga clic en Continuar para continuar con:
Un ingeniero especializado en fiabilidad desea investigar las fugas de corriente eléctrica entre los transistores de un dispositivo electrónico. Cuando la fuga de corriente alcanza cierto valor umbral, el dispositivo electrónico falla. Con el fin de acelerar las fallas durante las pruebas, los dispositivos se pusieron a prueba a temperaturas mucho más altas de lo normal. Los dispositivos se inspeccionaban cada dos días para detectar fallas.
Puede usar estos datos para hacer una demostración de Pruebas aceleradas de vida útil. La relación entre la temperatura de Arrhenius y las fallas es lineal.
| Columna de la hoja de trabajo | Descripción |
|---|---|
| TiempoInicio | El momento inicial del intervalo de prueba, en días. |
| TiempoFin | El momento final del intervalo de prueba, en días. Los dispositivos se inspeccionaban cada 2 días. |
| Conteo | El número de dispositivos que fallaron dentro del intervalo de prueba entre TiempoInicio y TiempoFin. |
| Temp | La temperatura a la cual se expuso el dispositivo. |
| NuevaTemp | Las temperaturas para efectos de predicción. 55°C es la temperatura de diseño y 85°C es la temperatura en el peor caso. |
La fila 1 indica que ningún dispositivo expuesto a 125°C falló durante el intervalo desde el inicio de la prueba hasta la primera inspección en el día 2. La fila 8 indica que 46 dispositivos que estuvieron expuestos a 125°C durante el intervalo desde el día 14 hasta el final de la prueba en el día 16 seguían funcionando.
Ahora estás saliendo de support.minitab.com.
Haga clic en Continuar para continuar con: