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Un ingeniero especializado en fiabilidad desea investigar las fugas de corriente eléctrica entre los transistores de un dispositivo electrónico. Cuando la fuga de corriente alcanza cierto valor umbral, el dispositivo electrónico falla. Con el fin de acelerar las fallas durante las pruebas, los dispositivos se pusieron a prueba a temperaturas mucho más altas de lo normal. Los dispositivos se inspeccionaban cada dos días para detectar fallas.
Puede usar estos datos para hacer una demostración de Pruebas aceleradas de vida útil. La relación entre la temperatura de Arrhenius y las fallas es lineal.
| Columna de la hoja de trabajo | Descripción |
|---|---|
| TiempoInicio | El momento inicial del intervalo de prueba, en días. |
| TiempoFin | El momento final del intervalo de prueba, en días. Los dispositivos se inspeccionaban cada 2 días. |
| Conteo | El número de dispositivos que falló dentro del intervalo de la prueba, entre el TiempoInicio y el TiempoFin. |
| Temp | La temperatura a la cual se expuso el dispositivo. |
| NuevaTemp | Las temperaturas para efectos de predicción. 55oC es la temperatura de diseño y 85oC es la temperatura del peor caso. |
La fila 1 indica que no ninguno de los dispositivos que fueron expuestos a 125oC falló durante el intervalo desde el comienzo de la prueba hasta la primera inspección al día 2. La fila 8 indica que 46 dispositivos que fueron expuestos a 125oC durante el intervalo desde el día 14 hasta el final de la prueba el día 16 todavía funcionaban.
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