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Un fabricante de semiconductores quiere inspeccionar matrices en obleas de semiconductores de 5 lotes diferentes. Le dan a cada troquel una coordenada X e Y, luego inspeccionan el número de defectos en cada troquel.
Puede usar estos datos para hacer una demostración de Gráfica de oblea.
| Columna de la hoja de trabajo | Descripción |
|---|---|
| Lote | El número de lote del semiconductor. |
| X | La coordenada X del semiconductor. |
| Y | La coordenada Y del semiconductor. |
| Fehler | El número de defectos en el semiconductor. |
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