Daten zu Kriechströmen

Ein Zuverlässigkeitstechniker möchte den Kriechstrom zwischen den Transistoren in einem elektronischen Gerät untersuchen. Mit diesen Daten können Sie das Verfahren Beschleunigte Lebensdauerprüfung veranschaulichen.

Ein Zuverlässigkeitstechniker möchte den Kriechstrom zwischen den Transistoren in einem elektronischen Gerät untersuchen. Wenn der Kriechstrom einen gewissen Schwellenwert erreicht, fällt das elektronische Gerät aus. Um Fehlschläge für Tests zu beschleunigen, wurden die Geräte bei deutlich höheren als normalen Temperaturen getestet. Die Geräte wurden alle zwei Tage auf einen Ausfall geprüft.

Mit diesen Daten können Sie das Verfahren Beschleunigte Lebensdauerprüfung veranschaulichen. Die Beziehung zwischen der Arrhenius-Temperatur und den Ausfällen ist linear.

Arbeitsblattspalte	Beschreibung
Startzeit	Die Startzeit des Testintervalls in Tagen.
Endzeit	Die Endzeit des Testintervalls, in Tagen. Die Geräte wurden alle zwei Tage geprüft.
Anzahl	Die Anzahl der Geräte, die im Testintervall zwischen Startzeit und Endzeit fehlgeschlagen sind.
Temp	Die Temperatur, der das Gerät ausgesetzt wurde.
TempNeu	Die Temperaturen für Prognosezwecke. 55°C sind die Auslegungstemperatur und 85°C die schlimmste Temperatur.

Reihe 1 zeigt an, dass keine Geräte, die 125°C ausgesetzt waren, im Zeitraum vom Beginn des Tests bis zur ersten Inspektion am zweiten Tag versagten. Reihe 8 zeigt an, dass 46 Geräte, die im Zeitraum von Tag 14 bis zum Ende des Tests am Tag 16 125°C ausgesetzt waren, noch funktionsfähig waren.

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