Daten zu Kriechströmen

Ein Zuverlässigkeitstechniker möchte den Kriechstrom zwischen den Transistoren in einem elektronischen Gerät untersuchen. Wenn der Kriechstrom einen gewissen Schwellenwert erreicht, fällt das elektronische Gerät aus. Um Ausfälle für Testzwecke zu beschleunigen, wurden die Geräte unter Temperaturen getestet, die weit über den normalen Betriebstemperaturen liegen. Die Geräte wurden alle zwei Tage auf einen Ausfall geprüft.

Mit diesen Daten können Sie das Verfahren Beschleunigte Lebensdauerprüfung veranschaulichen. Die Beziehung zwischen der Arrhenius-Temperatur und den Ausfällen ist linear.

Arbeitsblattspalte	Beschreibung
Startzeit	Die Startzeit des Testintervalls in Tagen.
Endzeit	Die Endzeit des Testintervalls in Tagen. Die Geräte wurden alle zwei Tage geprüft.
Anzahl	Die Anzahl der Geräte, die im Testintervall zwischen Startzeit und Endzeit ausgefallen sind.
Temp	Die Temperatur, der das Gerät ausgesetzt wurde.
TempNeu	Die Temperaturen für Prognosezwecke. 55^oC ist die laut Konstruktion vorgesehene Temperatur, und 85^oC ist die ungünstigstenfalls auftretende Temperatur.

Zeile 1 gibt an, dass im Intervall vom Beginn des Tests bis zur ersten Prüfung an Tag 2 keine Geräte ausgefallen sind, die 125^oC ausgesetzt wurden. Zeile 8 gibt an, dass 46 Geräte, die im Intervall von Tag 14 bis zum Ende des Tests an Tag 16 einer Temperatur von 125^oC ausgesetzt wurden, immer noch funktionstüchtig waren.

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