Datensatzbibliothek

Halbleiter-Daten

Ein Hersteller von Halbleitern möchte dies auf Halbleiterwafern aus 5 verschiedenen Chargen prüfen. Sie geben jedem Würfel eine X- und Y-Koordinate und untersuchen dann die Anzahl der Defekte auf jedem Würfel. Mit diesen Daten können Sie das Verfahren Waferplot veranschaulichen.

Ein Hersteller von Halbleitern möchte dies auf Halbleiterwafern aus 5 verschiedenen Chargen prüfen. Sie geben jedem Würfel eine X- und Y-Koordinate und untersuchen dann die Anzahl der Defekte auf jedem Würfel.

Mit diesen Daten können Sie das Verfahren Waferplot veranschaulichen.

Arbeitsblattspalte Beschreibung
Viel Die Chargennummer des Halbleiters.
X Die X-Koordinate des Halbleiters.
Y Die Y-Koordinate des Halbleiters.
Mängel Die Anzahl der Defekte auf dem Halbleiter.
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